Filiale groupe Nexeya Tests automatiques de cartes électroniques Développement de tests Bancs et moyens de tests spécifiques - Intégration/validation de systèmes électroniques complexes Filières de bancs de tests - Standardisation - Architectures distribuées - offre modulaire - Fonctions spécifiques - Intégration - Validation - Temps réel critique Tests de composants, cartes et ensembles électroniquesTest Bundary scan - Test sonde mobile - étude de testabilité - Simulateur Asic - stratégie de test - Outil JTAG Technologie - Göpel - Testway Maintenance des systèmes électroniques complexes Réparation - MCO - Maintenance préventive/curative - Traitement des obsolescences - Tierce maintenance applicative IOS 9001 V2000 DNV